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  • 產(chǎn)品資料

    軟件源代碼缺陷深度分析平臺(tái)

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    產(chǎn)品名稱(chēng): 軟件源代碼缺陷深度分析平臺(tái)
    產(chǎn)品型號(hào): 國(guó)產(chǎn)自主可控軟件品牌
    產(chǎn)品展商: 其它品牌
    產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

    簡(jiǎn)單介紹

    軟件源代碼缺陷深度分析平臺(tái) 新一代軟件源代碼缺陷深度分析平臺(tái),源自清華大學(xué)與國(guó)防科技大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)多年對(duì)代碼靜態(tài)分析技術(shù)的理論深耕,結(jié)合軟件工程實(shí)踐研發(fā)而成,具有良好的語(yǔ)言擴(kuò)充性、規(guī)則完備性、開(kāi)發(fā)環(huán)境可集成性,采用控制流分析、數(shù)據(jù)流分析、上下文敏感分析、對(duì)象敏感分析、跨程序分析和跨文件分析等多種先進(jìn)技術(shù),精準(zhǔn)檢測(cè)軟件的漏洞與缺陷。HDL Designer國(guó)產(chǎn)替代


    軟件源代碼缺陷深度分析平臺(tái)  的詳細(xì)介紹
    您的智能**代碼守護(hù)者

    新一代軟件源代碼缺陷深度分析平臺(tái),源自清華大學(xué)與國(guó)防科技大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)多年對(duì)代碼靜態(tài)分析技術(shù)的理論深耕,結(jié)合軟件工程實(shí)踐研發(fā)而成,具有良好的語(yǔ)言擴(kuò)充性、規(guī)則完備性、開(kāi)發(fā)環(huán)境可集成性,采用控制流分析、數(shù)據(jù)流分析、上下文敏感分析、對(duì)象敏感分析、跨程序分析和跨文件分析等多種先進(jìn)技術(shù),精準(zhǔn)檢測(cè)軟件的漏洞與缺陷。

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    基礎(chǔ)功能

    支持上等語(yǔ)言種類(lèi)包括:C/C++、C#、Java、PHP、Python、JavaScript、LUA、XML
    支持主流開(kāi)發(fā)框架:SpringMVC、SpringBoot、SSM、Struts2、ThinkPHP、Flask
    支持主流構(gòu)建:CMake、Maven | 支持主流SCM:GitLab、GitHub、SVN | 支持主流構(gòu)建系統(tǒng):Jenkins、GitLab-CI
    支持主流Bug跟蹤系統(tǒng):禪道 | 支持RESTFUL API,可由第三方系統(tǒng)集成,容易嵌入DevOps
    支持缺陷知識(shí)庫(kù)擴(kuò)展 | 支持項(xiàng)目級(jí)的訪(fǎng)問(wèn)權(quán)限控制
    支持主流OS安裝部署:Windows、Linux、銀河麒麟

           
      
    混合語(yǔ)言工程檢測(cè)

    強(qiáng)大的缺陷和漏洞檢測(cè)能力

    支持國(guó)內(nèi)外主流標(biāo)準(zhǔn):
     · CWE 7PK覆蓋率80%+:
    Java分類(lèi)200+,涵蓋CWE 130+:
    C分類(lèi)60+,涵蓋CWE 60+:
    其他語(yǔ)言分類(lèi)300+,涵蓋CWE 200+:
     · OWASP TOP 10覆蓋率100%:
     · 支持GJB-8114、GJB-5369編碼規(guī)范:HDL Designer國(guó)產(chǎn)替代

    自主可控

    通過(guò)了銀河麒麟飛騰 OS 系統(tǒng)兼容性認(rèn)證。核心開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)來(lái)自清華大學(xué)、國(guó)防科大等研究機(jī)構(gòu),作為國(guó)內(nèi)*早投入軟件**、編譯技術(shù)、形式化方法的研究團(tuán)隊(duì),在該領(lǐng)域擁有10年以上研究經(jīng)驗(yàn)。產(chǎn)品核心代碼均為自研,擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán),自主可控性好,能更好的保護(hù)用戶(hù)代碼資產(chǎn)**。

    自主可控
    代碼**態(tài)勢(shì)

    代碼**態(tài)勢(shì)

    給項(xiàng)目管理人員提供專(zhuān)業(yè)的代碼綜合質(zhì)量評(píng)估視角,更好的把握代碼的全局**狀態(tài),更好的掌控代碼到整體**短板。在平臺(tái)首頁(yè)顯示所有項(xiàng)目的關(guān)鍵指標(biāo)信息,在項(xiàng)目首頁(yè)顯示該項(xiàng)目的關(guān)鍵指標(biāo)信息。HDL Designer國(guó)產(chǎn)替代

    缺陷綜合定位

    在錯(cuò)綜復(fù)雜的缺陷報(bào)告中定位缺陷成因是棘手的問(wèn)題。為此,提供全局的缺陷數(shù)據(jù)流綜合視角,便于開(kāi)發(fā)人員定位關(guān)鍵函數(shù)。同時(shí)在關(guān)鍵缺陷路徑上提供重要的輔助信息,幫助開(kāi)發(fā)人員理解缺陷成因,更快修復(fù)缺陷。產(chǎn)品:微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點(diǎn)儀,熱導(dǎo)氣體分析儀,GE流量計(jì),OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門(mén)子U23分析儀,ppb微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃?xì)鉄嶂祪x,Kaye溫度驗(yàn)證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點(diǎn)儀,干燥機(jī)露點(diǎn)儀,激光氣體分析儀,便攜式露點(diǎn)儀,便攜式微量氧分析儀,F(xiàn)ei (維修中心,代表處,總代理,分公司,子公司,售后中心,銷(xiāo)售中心,上海辦,辦事處

    缺陷綜合定位
    全局?jǐn)?shù)據(jù)流圖顯示

    全局?jǐn)?shù)據(jù)流圖顯示

    提供缺陷類(lèi)型的全局?jǐn)?shù)據(jù)流圖,在一個(gè)圖上展示同一類(lèi)型缺陷的全部數(shù)據(jù)流圖,方便開(kāi)發(fā)人員找到修復(fù)該類(lèi)型缺陷的*關(guān)鍵函數(shù)/代碼塊。

    深入且精準(zhǔn)的缺陷分析

    傳統(tǒng)靜態(tài)分析技術(shù)大都基于語(yǔ)法樹(shù)(AST),便于檢測(cè)代碼中的“規(guī)范”類(lèi)缺陷,但對(duì)于深度缺陷檢測(cè)不足。中采用了基于值流圖的技術(shù)方案,兼顧了分析效率與精度,可檢測(cè)出跨越多重函數(shù)、多個(gè)文件的隱蔽代碼缺陷,有效提升了檢出率。HDL Designer國(guó)產(chǎn)替代

    深入且精準(zhǔn)的缺陷分析
    智慧減負(fù)

    智慧減負(fù)

    在持續(xù)集成環(huán)境中,回歸分析有助于提高代碼質(zhì)量,同時(shí)也引入了大量工作量。CodeSense 可以針對(duì)同一代碼的不同版本進(jìn)行增量分析,方便開(kāi)發(fā)人員在版本迭代時(shí)關(guān)注新增的問(wèn)題,可有效提高效率。于此同時(shí),平臺(tái)還可將之前的代碼審計(jì)結(jié)果鏈接到后續(xù)版本中,極大減輕復(fù)雜。


    技術(shù)實(shí)力—夯實(shí)的理論基礎(chǔ)

    團(tuán)隊(duì)近5年累計(jì)發(fā)表學(xué)術(shù)論文百余篇,包括中國(guó)計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)(CCF)分類(lèi)A級(jí)的:POPL、CAV、LICS、ICSE、FSE、TSE、TOSEM、AI、TPDS、TC等 

    團(tuán)隊(duì)核心成員以**作者發(fā)表了大陸首篇CAV論文。兩次獲得COMPSAC會(huì)議唯壹*佳論文,在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用論文發(fā)表在TIE、TEC等高影響因子期刊(IF分別為7.0、8.1) 

    與國(guó)外靜態(tài)分析領(lǐng)域知名學(xué)者保持活躍交流,為工具研發(fā)提供理論支持

    技術(shù)實(shí)力夯實(shí)的理論基礎(chǔ) 技術(shù)實(shí)力夯實(shí)的理論基礎(chǔ) 技術(shù)實(shí)力夯實(shí)的理論基礎(chǔ)技術(shù)實(shí)力夯實(shí)的理論基礎(chǔ) 技術(shù)實(shí)力夯實(shí)的理論基礎(chǔ)

    更多軟件源代碼缺陷深度分析平臺(tái)信息請(qǐng)直接致電埃登威上海021-55581219HDL Designer國(guó)產(chǎn)替代


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