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            產品資料
    
        
    
            
    
                

    
    
    
    
        
    
            
    
                日本ae-mic超低電阻測試儀
            
    
        
    
        
    
        
    
        
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        產品名稱: 
            日本ae-mic超低電阻測試儀
            
        
    
            產品型號:
            AE-1152D_11C
    
        
    
            產品展商:
            其它品牌
    
        
        
        
        
    
            產品文檔:
            無相關文檔
        
    
        
        
    
        
    
            
    
                簡單介紹
            
    
            
    
                
    日本ae-mic超低電阻測試儀
    自動測量超低電阻的醉佳選擇
    配備BIN功能，判斷結果可以分為11類
    
            
    
            
    
                
                    日本ae-mic超低電阻測試儀  的詳細介紹
            
    
            
    
                 

    
	日本ae-mic超低電阻測試儀 

    

    
	 

    

    
	 

    

      
	
    • 
		非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。
	
      • 
	
    • 
		取消對熱電效應的測量
	
      • 
	
    • 
		脈沖測量電流，以減少測量端子的自熱和磨損
	
      • 
	
    • 
		接觸檢查功能標準設備
	
      • 
	
    • 
		測量：0.0000mΩ?1.5000kΩ
	
      • 
	
    • 
		％測量值：0.1mΩ?1kΩ/±50.00％[小分辨率10nΩ]
	
      • 
	
    • 
		GP-IB / RS-232C / Centronics接口（可選）
	
      • 
	
    • 
		配備BIN功能[BIN1至BIN9] （多可以分類11個），集電極開路輸出，LED顯示和蜂鳴器聲音
	
      • 
	
    • 
		測量電流/測量電壓異常檢查電路的標準設備
	
      • 
	
    • 
		移位輸出可能
	
      • 

    

    
	日本ae-mic超低電阻測試儀測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

    

    
	
		
    
			
				測量范圍
			
			
				測量范圍
			
			
				解析度
			
			
				實測電流
			
			
				測量精度
			
		
    
		
    
			
				1毫歐
			
			
				0.0000mΩ?1.5000mΩ
			
			
				0.1微歐
			
			
				3A
			
			
				±（0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega）
    
±3Digit [平均] 
    
±4位數[SLOW] 
    
±5digit [快]
    
內
			    		
		
    
		
    
			
				10毫歐
			
			
				0.000mΩ至15.000mΩ
			
			
				1微歐
			
			
				1A
			
		
    
		
    
			
				100毫歐
			
			
				0.00mΩ至150.00mΩ
			
			
				10微歐
			
		
    
		
    
			
				1Ω
			
			
				0.0000Ω?1.5000Ω
			
			
				100微歐
			
			
				100毫安
			
		
    
		
    
			
				10Ω
			
			
				0.000Ω至15.000Ω
			
			
				1毫歐
			
		
    
		
    
			
				100Ω
			
			
				0.00Ω至150.00Ω
			
			
				10毫歐
			
			
				10毫安
			
		
    
		
    
			
				1KΩ
			
			
				0.0000kΩ至1.5,000kΩ
			
			
				100毫歐
			
			
				1毫安
			
		
    
		
    
			
				％
			
			
				0.1mΩ?1kΩ/±50.00％
			
			
				0.01％[10nΩ]
			
			
				看上面
			
			
				參考規(guī)格
			
		
    
	    

    

    
	
		
    
			
				測量端子開路電壓
			
			
				5V以下
			
		
    
		
    
			
				測量方式
			
			
				4端子測量[可進行接觸檢查]
			
		
    
		
    
			
				采樣時間
			
			
				[日本ae-mic超低電阻測試儀自由運行] 2至10次/秒
			
		
    
		
    
			
				[外部啟動]大約9毫秒-400毫秒。
			
		
    
		
    
			
				比較器設定范圍
			
			
				上限和下限均為[0至15000]，
    
％范圍：低0至-50％，高0至+ 50％
			    		
		
    
		
    
			
				比較器判斷結果顯示
			
			
				[BIN1至BIN9]顯示和蜂鳴器
			
		
    
		
    
			
				控制信號
			
			
				測量開始信號：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始
			
		
    
		
    
			
				保持信號：斷開，“ H” [DC12V]：自由運行，“ L” [0V]：保持
			
		
    
		
    
			
				判斷結果信號[LO / GO（BIN1至BIN9）/ H1] 
    
：集電極開路輸出max40V，100mA
			    		
		
    
		
    
			
				接觸錯誤[CONT-E]：
    
集電極開路輸出大40V，100mA
			    		
		
    
		
    
			
				日本ae-mic超低電阻測試儀測量結束信號[EOC]：集電極開路輸出大40V，100mA
			
		
    
		
    
			
				周邊環(huán)境
			
			
				溫度：5℃?+ 40℃濕度：85％以下
			
		
    
		
    
			
				需要電源
			
			
				AC85V-265V，50-60HZ，約60VA
			
		
    
		
    
			
				外形尺寸
			
			
				333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起）
			
		
    
		
    
			
				重量
			
			
				約3kg
			
		
    
	    

    

    
	
		
    
			
				選項
			
			
				? RS-232C
			
			
				這些選項中 只有
    
一個
    
可以內置。
			    		
		
    
		
    
			
				? GP-IB
			
		
    
		
    
			
				?日本ae-mic超低電阻測試儀打印機輸出（Centronics）
			
		
    
		
    
			
				?打印機電纜
			
		
    
		
    
			
				?短接（零歐姆標準電阻）
			
		
    
	    

    

    
	 日本ae-mic超低電阻測試儀 

    
    









    
    
    
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            聯(lián)系電話
            
    
                
            
    
        
    
        
        
    
            內容
            
    
                
            
    
        
    
        
        
    
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