日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱:
日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):
AE-162D
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀適用于 D，F(xiàn)，G，J，K類，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)
日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀 的詳細(xì)介紹
日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀
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模擬到數(shù)字隔離，提高了抗噪聲能力，具有很高的穩(wěn)定性
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與極小的芯片兼容（低功率測(cè)量）
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超高速0.7毫秒（代表值）
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通過(guò)靜態(tài)功率抵消測(cè)量實(shí)現(xiàn)高精度和高穩(wěn)定性
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日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀通過(guò)對(duì)每個(gè)范圍進(jìn)行測(cè)量值積分時(shí)間設(shè)置功能，實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測(cè)量
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％測(cè)量：±99.99％[5mΩ-109MΩ]
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測(cè)量：0.00mΩ?200.00MΩ
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接觸檢查：測(cè)量前/測(cè)量后/ OFF
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RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（GP-IB是可選的）
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打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（與Centronics兼容）
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設(shè)置值傳送功能作為標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備：（相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳送到另一臺(tái)AE-162D并自動(dòng)設(shè)置）
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測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
校準(zhǔn)后180天[校準(zhǔn)后1年：1.5倍]的測(cè)量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）
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測(cè)量范圍
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標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍
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實(shí)測(cè)電流
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測(cè)量精度*
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慢
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快速
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100毫歐
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5mΩ-100mΩ
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100毫安
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≤±0.02％±2a±2d
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≤±0.03％±3a±2d±[2 /（1 + n）] d
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1Ω
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100.1mΩ?1Ω
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100毫安
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在±0.02％±a±1d之內(nèi)
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≤±0.02％±a±2d±[2 /（1 + n）] d
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10Ω
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1.001Ω?10Ω
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50毫安
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100Ω
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10.01Ω-100Ω
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10毫安
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±0.02％±1d以內(nèi)
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在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
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1kΩ
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100.1Ω?1kΩ
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5毫安
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10kΩ的
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1.001kΩ?10kΩ
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0.5毫安
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100kΩ的
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10.01kΩ-100kΩ
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50微安
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1兆歐
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100.1kΩ?1MΩ
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5微安
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在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
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10兆歐
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1.001MΩ?10MΩ
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0.5微安
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±0.03％±1d以內(nèi)
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在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
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100兆歐
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10.01MΩ?109MΩ
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0.05微安
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±0.1％±2d以內(nèi)
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* D =數(shù)字，n =積分時(shí)間（毫秒），％測(cè)量：α=（100 /標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定值mΩ）x 0.01％，值測(cè)量：α= 0（加±1d）
*完整屏蔽狀態(tài)下的精度
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測(cè)量時(shí)間
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外部啟動(dòng)
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自由奔跑
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日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀慢
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快速
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慢
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快速
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大約18毫秒-400毫秒
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大約0.7毫秒-400毫秒
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約30次/秒?
約2次/秒
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約60次/秒?
約2次/秒
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測(cè)量端子開(kāi)路電壓
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15V以下
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測(cè)量結(jié)束信號(hào)（EOC）脈沖寬度
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1到250毫秒，并且可以連續(xù)設(shè)置
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測(cè)量方式
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4端子測(cè)量/ 2端子測(cè)量可切換
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判斷值設(shè)定范圍
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％測(cè)量：±99.99％，值測(cè)量：00000-20000
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周邊環(huán)境
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日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀溫度：0°C至+ 50°C，濕度：80％以下
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需要電源
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AC85V?265V，50Hz?60Hz，約50VA
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外形尺寸
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333（w）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起）
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重量
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約3.5kg
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選項(xiàng)
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? GP-IB
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?日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀數(shù)據(jù)傳輸線
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?短接（零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻）
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?轉(zhuǎn)換適配器（3P x2?5P）
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日本ae-mic超高速芯片電阻測(cè)試儀AE-162D
