日本napson高規(guī)半自動四探針
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產(chǎn)品名稱:
日本napson高規(guī)半自動四探針
產(chǎn)品型號:
RT-3000 / RG-2000薄層電阻測量儀
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
日本napson高規(guī)半自動四探針薄層電阻測量儀具有拳球醉佳電阻測量范圍的4探針法測量儀測量模式可編程和圓形/方形測量兼容的繪圖軟件自檢功能，厚度/外圍位置/溫度補償功能（用于硅）根據(jù)電阻范圍從兩種類型的測試儀中選擇（RT-3000（S）：寬范圍的測量范圍，RT-3000（H）：高阻的測量范圍）
日本napson高規(guī)半自動四探針 的詳細介紹
日本napson高規(guī)半自動四探針薄層電阻測量儀
測量規(guī)格
測量目標
-
與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
-
新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
-
導電薄膜相關（金屬，ITO等）
-
擴散樣本
-
硅基薄膜（LTPS等），IGZO
-
硅基外延離子注入樣品
-
其他（*請與我們聯(lián)系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
-選項（兼容大直徑尺寸：RG-3000型）：?12英寸，?210 x 210毫米
測量范圍
①RT-3000（S）；
[電阻（比電阻）]100μ至1MΩ·cm
[片材電阻] 1m至10MΩ/
sq②RT-3000（H）;
[片材電阻] 10m至1GΩ/ sq
測量規(guī)格
測量目標
-
與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
-
新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
-
導電薄膜相關（金屬，ITO等）
-
擴散樣本
-
硅基薄膜（LTPS等），IGZO
-
硅基外延離子注入樣品
-
其他（*請與我們聯(lián)系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
-選項（兼容大直徑尺寸：RG-3000型）：?12英寸，?210 x 210毫米
測量范圍
①RT-3000（S）；
[電阻（比電阻）]100μ至1MΩ·cm
[片材電阻] 1m至10MΩ/
sq②RT-3000（H）;
[片材電阻] 10m至1GΩ/ sq
映射圖像
日本napson高規(guī)半自動四探針薄層電阻測量儀
