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  • 產(chǎn)品資料

    DUORES日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x

    如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以 sendmsg
    產(chǎn)品名稱: DUORES日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x
    產(chǎn)品型號(hào): napson DUORES
    產(chǎn)品展商: 其它品牌
    產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

    簡(jiǎn)單介紹

    日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x
    便于攜帶和測(cè)量的手持式薄層電阻測(cè)量裝置:DUORES
    根據(jù)測(cè)量目標(biāo)更換和使用兩種類型的探頭(無(wú)損型和接觸型)。


    DUORES日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x  的詳細(xì)介紹

    日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x


     

    DUORES手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x(2個(gè)探頭更換用[接觸式和非破壞性測(cè)量探頭])

    產(chǎn)品名稱:DUORES

    產(chǎn)品圖片(可根據(jù)客戶要求進(jìn)行各種定制)


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    產(chǎn)品特點(diǎn)

    便于攜帶和測(cè)量的手持式薄層電阻測(cè)量裝置:DUORES
    根據(jù)測(cè)量目標(biāo)更換和使用兩種類型的探頭(無(wú)損型和接觸型)。

    ?*1臺(tái)可以替換和使用兩種類型的探頭(無(wú)損型和接觸型)的便攜式座椅電阻測(cè)量裝置 ?
    只需放置/敲擊探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量
    ?電池連續(xù)工作時(shí)間:24小時(shí)(*電池)使用時(shí))
    ?顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量:多100(*從醉新數(shù)據(jù)顯示)

    ?存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)數(shù)量:多50,000(*軟件顯示屏)
    ?測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini 
    ?顯示:3種類型的顯示單元(Ω/□,S /□,n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]), 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)(0.000至9999)

    *我們僅出售主體+非破壞性探頭,并且僅出售主體+接觸探頭。

    測(cè)量規(guī)格

    測(cè)量目標(biāo)

    薄膜,玻璃,紙材料等 
    通常,可以在測(cè)量范圍內(nèi)測(cè)量任何樣品。
    ?薄膜材料(ITO,TCO等)
    ?低電子玻璃
    ?碳納米管,石墨烯材料
    ?金屬材料(納米線,網(wǎng)格,網(wǎng)眼)
    ?其他

    測(cè)量尺寸

    不論尺寸和厚度如何均可測(cè)量
    (*大于每個(gè)探頭的測(cè)量點(diǎn)尺寸)

    <測(cè)量點(diǎn)>

    ?無(wú)損探棒(渦電流型):φ25mm

    ?接觸式探頭(4種探頭類型):9毫米

    測(cè)量范圍

    ?無(wú)損探棒(渦電流法):0.5 -200Ω/ sq
    ?接觸探棒(4探針?lè)ǎ?.1 -4000Ω/ sq

    日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x

    Model DUORES 手持式面電阻測(cè)試儀

    Model DUORES 手持式面電阻測(cè)試儀可以容易更換使用非接觸式和接觸式兩種測(cè)試探頭

    Model DUORES 手持式面電阻測(cè)試儀<NAPSON 原創(chuàng)的技術(shù)>
    可替換手持式探頭支持兩種測(cè)試方式
    (1)非接觸式探頭(渦電流測(cè)試法)
    (2)接觸式探頭(四探針測(cè)試法)
    探頭觸碰到樣品時(shí)就會(huì)自動(dòng)開(kāi)始測(cè)量
    可以長(zhǎng)達(dá)24小時(shí)的測(cè)量時(shí)間
    *多顯示100組測(cè)量數(shù)據(jù)
    *多儲(chǔ)存50,000組測(cè)試數(shù)據(jù)
    可通過(guò)USB-MINI將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)出
    測(cè)量數(shù)據(jù)顯示4位數(shù)的浮動(dòng)小數(shù)點(diǎn)
    測(cè)試結(jié)果單位:Ω/sq,s/sq,n/m

    任意樣品只要在測(cè)試范圍內(nèi)都可以進(jìn)行測(cè)試。(如薄膜、玻璃、紙張等)
    導(dǎo)電薄膜(ITO, TCO等)
    LOW-E玻璃 
    碳納米管,石墨烯材料
    金屬材質(zhì)(納米銀線,金屬網(wǎng)格,金屬薄膜)
    其他材料
    * 歡迎索取更詳細(xì)產(chǎn)品資料,歡迎測(cè)樣

    樣品尺寸:
    任意尺寸形狀樣品都可以測(cè)試(測(cè)試面積必須大于探頭面積)


    DUORES日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x

    探頭類型 
    非接觸式探頭(渦電流測(cè)試法) 0.5 ~ 200 ohm/sq
    接觸式探頭(四探針測(cè)試法) 0.001 ~ 4000 ohm/sq ≦±0.5%
    *精度
    0.5~100ohm/sq: ≦3.0%*重復(fù)性
    100~200ohm/sq:≦5.0%*重復(fù)性 
    *重復(fù)性 : NAPSON標(biāo)準(zhǔn)片的測(cè)量重復(fù)性 (CV = STDEVP/AVG×100%)(出貨前即會(huì)校準(zhǔn))
    *精度   : NAPSON標(biāo)準(zhǔn)電阻的測(cè)試精度(出貨前即會(huì)校準(zhǔn))

    <尺寸>主機(jī):W80(100) ×D210 ×H36 mm, 約350g,{*并不含電池重量在其中}
    非接觸式探頭:W70(φ50) ×D20(φ50) ×H70 mm, 約170g
    接觸式探頭:W40 ×D15 x H50 mm, 約85g
    <電源>AC100~240V, 50/60Hz, DC9V 1A

    DUORES日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x


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