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  • 產(chǎn)品資料

    日本進(jìn)口kett電磁膜厚計

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    產(chǎn)品名稱: 日本進(jìn)口kett電磁膜厚計
    產(chǎn)品型號: kett LE-200J
    產(chǎn)品展商: 其它品牌
    產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

    簡單介紹

    日本進(jìn)口kett電磁膜厚計
    內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測厚儀的**型號
    測量范圍0-1500μm
    小于15μm的測量精度:&#177;0.3μm,15μm或更高:&#177;2%
    數(shù)據(jù)存儲1500點,統(tǒng)計計算功能


    日本進(jìn)口kett電磁膜厚計  的詳細(xì)介紹

    日本進(jìn)口kett電磁膜厚計


     

    • 內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測厚儀的**型號
    • 測量范圍0-1500μm
    • 小于15μm的測量精度:±0.3μm,15μm或更高:±2%
    • 數(shù)據(jù)存儲1500點,統(tǒng)計計算功能

     

    日本進(jìn)口kett電磁膜厚計主要規(guī)格

    測量方式 電磁感應(yīng)式
    測量目標(biāo) 磁性金屬上的非磁性涂層
    測量范圍 0-1500μm或60.00密耳
    測量精度 小于15μm:±0.3μm,15μm或以上:±2%
    解析度 小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1.0μm
    符合標(biāo)準(zhǔn) JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401 / ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376
    統(tǒng)計功能 測量次數(shù),平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,大值,小值,程序段號
    探測 單點接觸恒壓型(LEP-J)
    顯示方式 日本進(jìn)口kett電磁膜厚計數(shù)字(LCD,小顯示位數(shù)0.1μm)
    外部輸出 RS-232C接口(傳輸速度2400bps)
    電源供應(yīng) AC100V(50 / 60Hz)或電池1.5V(AA堿性)主機(jī)x 6,打印機(jī)x 4
    尺寸/質(zhì)量 120(W)x 250(D)x 55(H)毫米,1.0公斤
    配件 標(biāo)準(zhǔn)板,鐵座,標(biāo)準(zhǔn)板盒,電池1.5V(AA堿性),AC適配器,探針適配器,打印機(jī)紙,手提箱
    選項 L型探頭(LEP-21L),RS-232C連接電纜,數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”,“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Standard”,“ McWAVE Professional”,“ MultiProp”

     日本進(jìn)口kett電磁膜厚計

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